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行業(yè)產(chǎn)品

  • 行業(yè)產(chǎn)品

成都中冷低溫科技有限公司


經(jīng)營模式:經(jīng)銷商

商鋪產(chǎn)品:140條

所在地區(qū):四川成都市

聯(lián)系人:羅林 (銷售)

  • 接觸式高低溫沖擊機(jī)zonglen可替intest

    詳細(xì)摘要: 接觸式高低溫沖擊機(jī)zonglen可替intest ThermoTest TS-660T是一臺精密的接觸式高低溫沖擊機(jī),采用*的設(shè)計(jì)和技術(shù),具有廣泛的溫度范圍:-...

    產(chǎn)品型號:TS-660T所在地:成都市更新時(shí)間:2025-06-24 在線留言

  • 高低溫循環(huán)沖擊系統(tǒng) TA5000設(shè)備維修

    詳細(xì)摘要: 高低溫循環(huán)沖擊系統(tǒng) TA5000設(shè)備維修,極低的聲音制冷內(nèi)置直流冷凍機(jī),工程實(shí)驗(yàn)室環(huán)境 可在工程實(shí)驗(yàn)室環(huán)境中使用的極低噪音的制冷內(nèi)置 DC 制冷機(jī),直接在工作臺...

    產(chǎn)品型號:TA-5000所在地:成都市更新時(shí)間:2025-06-24 在線留言

  • zonglen高低溫氣流循環(huán)沖擊機(jī) 熱流罩TS780

    詳細(xì)摘要: zonglen高低溫氣流循環(huán)沖擊機(jī) 熱流罩TS780, 的性能達(dá)到了更高的標(biāo)準(zhǔn)。溫度從+125℃到-55℃之間轉(zhuǎn)換僅需10 秒,并有更廣泛的溫度范圍-80℃到 ...

    產(chǎn)品型號:所在地:成都市更新時(shí)間:2025-06-24 在線留言

  • 冷熱循環(huán)沖擊氣流測試機(jī) 高低溫?zé)崃鲀x

    詳細(xì)摘要: 冷熱循環(huán)沖擊氣流測試機(jī) 高低溫?zé)崃鲀x,冷熱循環(huán)沖擊氣流測試機(jī)TS-790以速度、精度和可靠性作為基本設(shè)計(jì)的標(biāo)準(zhǔn),能提供了非常*的溫度測試能力。溫度轉(zhuǎn)換從-55℃...

    產(chǎn)品型號:TS-790所在地:成都市更新時(shí)間:2025-06-24 在線留言

  • 集成電路IC芯片溫度沖擊測試機(jī) 熱流罩

    詳細(xì)摘要: 集成電路IC芯片溫度沖擊測試機(jī) 熱流罩,性能達(dá)到了更高的標(biāo)準(zhǔn)。TS-780以速度、精度和可靠性作為基本設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn),提供了非常*的溫度測試能力。溫度轉(zhuǎn)換從-55℃到...

    產(chǎn)品型號:所在地:成都市更新時(shí)間:2025-06-24 在線留言

  • zonglen高低溫氣流沖擊試驗(yàn)機(jī)替代inTest

    詳細(xì)摘要: zonglen高低溫氣流沖擊試驗(yàn)機(jī)替代inTest,是一臺精密的高低溫沖擊氣流儀,具有更廣泛的溫度范圍-65℃到+225℃,提供了非常*的溫度轉(zhuǎn)換測試能力。溫度...

    產(chǎn)品型號:ThermoTST所在地:成都市更新時(shí)間:2025-06-24 在線留言

  • HAST加速模擬老化測試箱

    詳細(xì)摘要: HAST加速模擬老化測試箱,試驗(yàn)箱適用于IC封裝,半導(dǎo)體,微電子芯片,磁性材料及其它電子零件進(jìn)行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試驗(yàn),使用于在產(chǎn)品...

    產(chǎn)品型號:所在地:成都市更新時(shí)間:2025-06-24 在線留言

  • HAST高加速老化模擬測試箱

    詳細(xì)摘要: HAST高加速老化模擬測試箱,試驗(yàn)箱適用于IC封裝,半導(dǎo)體,微電子芯片,磁性材料及其它電子零件進(jìn)行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試驗(yàn),使用于在產(chǎn)...

    產(chǎn)品型號:所在地:成都市更新時(shí)間:2025-06-24 在線留言

  • 接觸式高低溫沖擊試驗(yàn)機(jī)

    詳細(xì)摘要: (售價(jià)僅供參考)接觸式高低溫沖擊試驗(yàn)機(jī) TS640T是一臺精密的接觸式高低溫沖擊機(jī),采用*的設(shè)計(jì)和技術(shù) , 具 有 廣 泛 的 溫 度 范 圍 :- 4 0℃ ...

    產(chǎn)品型號:TS640T所在地:成都市更新時(shí)間:2025-06-23 在線留言

  • zonglen高低溫循環(huán)測試系統(tǒng) 熱流罩 TS-780B

    詳細(xì)摘要: zonglen高低溫循環(huán)測試系統(tǒng) 熱流罩 TS-780B,高低溫沖擊氣流儀的性能達(dá)到了更高的標(biāo)準(zhǔn)。TS-780B以速度、精度和可靠性作為基本設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn),提供了非常...

    產(chǎn)品型號:所在地:成都市更新時(shí)間:2025-06-23 在線留言

  • HAST高加速應(yīng)力試驗(yàn)系統(tǒng)加速高溫高濕偏壓

    詳細(xì)摘要: HAST高加速應(yīng)力試驗(yàn)系統(tǒng)加速高溫高濕偏壓,試驗(yàn)箱適用于IC封裝,半導(dǎo)體,微電子芯片,磁性材料及其它電子零件進(jìn)行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試...

    產(chǎn)品型號:所在地:成都市更新時(shí)間:2025-06-23 在線留言

  • 溫度強(qiáng)迫系統(tǒng)接觸式高低溫測試 ATC840

    詳細(xì)摘要: (售價(jià)僅供參考)溫度強(qiáng)迫系統(tǒng)接觸式高低溫測試 ATC840,用于需求高溫、低溫、高低溫進(jìn)行測試/溫度控制的工藝,如:材料特性分析、溫度循環(huán)測試、快速溫變測試、溫...

    產(chǎn)品型號:所在地:成都市更新時(shí)間:2025-06-23 在線留言

  • 接觸式芯片高低溫沖擊測試設(shè)備ATC860

    詳細(xì)摘要: (售價(jià)僅供參考)zonglen接觸式芯片高低溫沖擊測試設(shè)備ATC860,接觸式高低溫設(shè)備是成都中冷研發(fā)的針對芯片可靠性測試的專用設(shè)備,通過測試頭與待測器件直接貼...

    產(chǎn)品型號:所在地:成都市更新時(shí)間:2025-06-23 在線留言

  • 用于芯片測試的接觸式高低溫設(shè)備

    詳細(xì)摘要: (售價(jià)僅供參考)用于芯片測試的接觸式高低溫設(shè)備,接觸式高低溫設(shè)備是成都中冷研發(fā)的針對芯片可靠性測試的專用設(shè)備,通過測試頭與待測器件直接貼合的方式實(shí)現(xiàn)能量傳遞,與...

    產(chǎn)品型號:所在地:成都市更新時(shí)間:2025-06-23 在線留言

  • Flex TC接觸式高低溫設(shè)備 維修服務(wù)

    詳細(xì)摘要: (售價(jià)僅供參考)Flex TC接觸式高低溫設(shè)備 維修服務(wù),接觸式高低溫設(shè)備是以色列Mechanical Devices公司研發(fā)的針對芯片可靠性測試的專用設(shè)備,通...

    產(chǎn)品型號:所在地:成都市更新時(shí)間:2025-06-23 在線留言

  • HAST高加速壽命試驗(yàn)機(jī)Burn-in Chamber

    詳細(xì)摘要: HAST高加速壽命試驗(yàn)機(jī)Burn-in Chamber,試驗(yàn)箱適用于IC封裝,半導(dǎo)體,微電子芯片,磁性材料及其它電子零件進(jìn)行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速...

    產(chǎn)品型號:所在地:成都市更新時(shí)間:2025-06-23 在線留言

  • HAST測試機(jī)高加速壽命試驗(yàn)機(jī)Burn-in system

    詳細(xì)摘要: HAST測試機(jī)高加速壽命試驗(yàn)機(jī)Burn-in system,是用于調(diào)查分析何時(shí)出現(xiàn)電子元器件和機(jī)械零件的摩耗和使用壽命的問題的試驗(yàn)設(shè)備,其目的是提高環(huán)境應(yīng)力與工...

    產(chǎn)品型號:所在地:成都市更新時(shí)間:2025-06-23 在線留言

  • 導(dǎo)通電阻測試系統(tǒng)HAST試驗(yàn)箱

    詳細(xì)摘要: 導(dǎo)通電阻測試系統(tǒng)HAST試驗(yàn)箱,導(dǎo)通電阻測試系統(tǒng)可與zonglen HAST高加速老化試驗(yàn)箱配合使用,主要用于產(chǎn)品導(dǎo)通電阻性能驗(yàn)證。更好的保證您PCB檢測的精度...

    產(chǎn)品型號:所在地:成都市更新時(shí)間:2025-06-23 在線留言

  • CAF測試系統(tǒng)HAST高加速老化試驗(yàn)箱

    詳細(xì)摘要: CAF測試系統(tǒng)HAST高加速老化試驗(yàn)箱,CAF測試也叫離子遷移測試,CAF測試是一種用于評估材料中離子遷移性質(zhì)的實(shí)驗(yàn)方法。該測試通常用于檢測包裝材料、食品接觸材...

    產(chǎn)品型號:所在地:成都市更新時(shí)間:2025-06-23 在線留言

  • HAST高加速壽命試驗(yàn)箱Burn-in Oven

    詳細(xì)摘要: HAST高加速壽命試驗(yàn)箱Burn-in Oven,試驗(yàn)箱適用于IC封裝,半導(dǎo)體,微電子芯片,磁性材料及其它電子零件進(jìn)行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信...

    產(chǎn)品型號:所在地:成都市更新時(shí)間:2025-06-23 在線留言

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